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2018/5/18

アドバンテスト社製メモリテスターを用いて、 磁気ランダムアクセスメモリ(STT-MRAM)の 歩留まり率の向上と高性能化を実証

 指定国立大学法人東北大学国際集積エレクトロニクス研究開発センターの遠藤哲郎センター長 (兼 同大学大学院工学研究科教授、先端スピントロニクス研究開発センター(世界トップレベル研究拠点)副拠点長、 省エネルギー・スピントロニクス集積化システムセンター長、スピントロニクス学術連携研究教育センター 部門長)のグループは、 CIES コンソーシアムでの産学共同研究並びに、科学技術振興機構 産学共創 プラットフォーム共同研究推進プログラム(領域統括:遠藤哲郎)において、 株式会社アドバンテスト(代表取締役 兼 執行役員社長:吉田 芳明)と共同で、 アドバンテスト社製のメモリテスターを用いて次世代メモリである磁気ランダムアクセスメモリの歩留まり率の向上と高性能化の実証実験に成功しました。

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