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インフォメーション

2018/5/18

キーサイト・テクノロジー合同会社との共同開発の成果により、 STT-MRAMの信頼性評価(データ保持時間=10年)を1.7秒(従来比2万倍の高速化)で可能にする新測定システムの実証に成功

 指定国立大学法人東北大学国際集積エレクトロニクス研究開発センターの遠藤哲郎センター長 (兼 同大学大学院工学研究科教授、先端スピントロニクス研究開発センター(世界トップレベル研究拠点)副拠点長、 省エネルギー・スピントロニクス集積化システムセンター長、スピントロニクス学術連携研究教育センター 部門長)のグループは、 CIES コンソーシアムでの産学共同研究並びに、科学技術振興機構 産学共創 プラットフォーム共同研究推進プログラム(領域統括:遠藤哲郎)において、 キーサイト・テクノロジー合同会社(職務執行者社長:チエ ジュン)と共同で、 次世代メモリである磁気ランダムアクセスメモリの信頼性を高速かつ正確に評価する測定技術を開発し、 従来比で測定時間を1/20,000 にする新測定システムの実証に成功しました。

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